HY-SMU 3000系列 源测量单元 HY-SMU 3000 是一款高电压、高功率、低电流源测量单元（SMU）仪器，它具备前所未有的强大功率、高精度、高速度、灵活性以及易用性，能够提升研发、生产测试和可靠性环境中的工作效率。 HY-SMU 3000具有高功率和超低电流性能。是专门针对高压电子和功率半导体器件的特征分析与测试而设计的，例如二极管、FET和IGBT，以及其它一些需要高电压、快速响应和精确测量电压和电流的元件和材料。
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— 产品特点 —
■ 具有高度灵活的四象限电压和电流源/负载，并配备了高精度的电压和电流测量仪表
■ 提供或吸收高达180W的直流或脉冲电源（±3000V/20mA，±1500V/120mA）
■ 1fA低电流分辨率
■ 双22-bit 精度ADC和每点双18-bit 1μs数字转换器，用于高精度和高速瞬态捕获
■ 易于与其它数字源表进行系统集成的兼容能力
■ 单台仪器内集成了精密电源、电流源、DMM、任意波形发生器、电压或电流脉冲发生器、18-bit电子负载和触发控制器
— 产品功能 —
■ 半导体特征分析仪
■ 电压或电流波形发生器
■ 电压或电流脉冲发生器
■ 支持电压和电流回读的精密电源
■ 可用作以下用途
■ 真 电流源
■ 数字万用表（DCV、DCI、电阻、功率和6½分辨率电源）
■ 精密电子负载
— 应用领域 —
■ HY-SMU 3000 适用于对各种现代电子设备和器件进行I-V特性分析和功能测试：
■ 功率半导体器件特征分析与测试
■ GaN、SiC和其它一些复合材料与器件的特征分析
■ 高达3kV的击穿与漏电流测试
■ 亚毫秒瞬态特征分析
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